کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672601 | 1009932 | 2009 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Enhanced imaging in low dose electron microscopy using electron counting
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We compare the direct electron imaging performance at 120Â keV of a monolithic active pixel sensor (MAPS) operated in a conventional integrating mode with the performance obtained when operated in a single event counting mode. For the combination of sensor and incident electron energy used here, we propose a heuristic approach with which to process the single event images in which each event is renormalised to have an integrated weight of unity. Using this approach we find enhancements in the Nyquist frequency modulation transfer function (MTF) and detective quantum efficiency (DQE) over the corresponding integrating mode values by factors of 8 and 3, respectively.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 109, Issue 12, November 2009, Pages 1411-1416
Journal: Ultramicroscopy - Volume 109, Issue 12, November 2009, Pages 1411-1416
نویسندگان
G. McMullan, A.T. Clark, R. Turchetta, A.R. Faruqi,