کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1297781 | 1498358 | 2009 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Model for evolution of periodic layered structure in the SiO2/Mg system
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
الکتروشیمی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Model for evolution of periodic layered structure in the SiO2/Mg system Model for evolution of periodic layered structure in the SiO2/Mg system](/preview/png/1297781.png)
چکیده انگلیسی
A mathematical model for the growth of MgO/Mg2Si periodic layered structure (PLS) is presented based on Fick's diffusion law and conservation of matter. The model explains the temporal evolution of the width of periodic layers at different temperatures, for layers distant enough from the Mg source. It is demonstrated that the difference in thickness of a pair of any two adjacent layers decreases with increasing temperature.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid State Ionics - Volume 180, Issues 26–27, 19 October 2009, Pages 1350–1355
Journal: Solid State Ionics - Volume 180, Issues 26–27, 19 October 2009, Pages 1350–1355
نویسندگان
I. Gutman, L. Klinger, I. Gotman, M. Shapiro,