کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1491745 | 992359 | 2006 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The strain reduction and quality improvement in ZnO film by a 30° in-plane rotation with respect to the Al2O3 substrate
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The in-plane orientation of epitaxial ZnO thin film on Al2O3(0 0 0 1) was determined by azimuthal scan of X-ray diffraction. Comprehensive structural characterizations, including the lattice strain in perpendicular direction, the defect density, were obtained from high resolution X-ray diffraction. It's found that a 30° rotation in ZnO against Al2O3, resulting in ZnO〈1 1 2 0〉//Al2O3〈1 0 1 0〉, can efficiently reduce the strain and defects in ZnO layer. Consequently, the optical property is significantly improved.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Research Bulletin - Volume 41, Issue 12, 14 December 2006, Pages 2198–2203
Journal: Materials Research Bulletin - Volume 41, Issue 12, 14 December 2006, Pages 2198–2203
نویسندگان
Shengqiang Zhou, M.F. Wu, S.D. Yao, Y.M. Lu, Y.C. Liu,