کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1500053 | 993332 | 2011 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Fabrication, characterization and testing of thin films with novel microstructures
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A new approach is presented to produce uniform thickness, electron-transparent, free-standing single-phase or multiphase thin films with nanocrystalline grain sizes that lend themselves readily to in situ heating and straining in a transmission electron microscope. The second phase in the multiphase films is in the form of through-thickness rods, and their diameter, spacing and spatial arrangement can be controlled. Preliminary results of deformation studies on such films are presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 64, Issue 7, April 2011, Pages 629–632
Journal: Scripta Materialia - Volume 64, Issue 7, April 2011, Pages 629–632
نویسندگان
Seong-Woong Kim, K. Sharvan Kumar,