کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1567322 1514233 2010 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electronic ionization induced atom migration in spinel MgAl2O4
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی انرژی انرژی هسته ای و مهندسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Electronic ionization induced atom migration in spinel MgAl2O4
چکیده انگلیسی

We report direct spectroscopic evidence for atom migration during the initial stage of electron irradiation in spinel MgAl2O4. Time-dependent electron energy-loss spectroscopy of the Mg and Al L23 edges shows that both Mg and Al have a tendency to occupy the octahedral interstices under electron irradiation, along with a slight expansion of the Al–O bonding distance, but there is little change in the structural framework of oxygen. The process is irreversible at room temperature.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Nuclear Materials - Volume 403, Issues 1–3, August 2010, Pages 147–151
نویسندگان
, ,