کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1567322 | 1514233 | 2010 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electronic ionization induced atom migration in spinel MgAl2O4
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی انرژی
انرژی هسته ای و مهندسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We report direct spectroscopic evidence for atom migration during the initial stage of electron irradiation in spinel MgAl2O4. Time-dependent electron energy-loss spectroscopy of the Mg and Al L23 edges shows that both Mg and Al have a tendency to occupy the octahedral interstices under electron irradiation, along with a slight expansion of the Al–O bonding distance, but there is little change in the structural framework of oxygen. The process is irreversible at room temperature.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Nuclear Materials - Volume 403, Issues 1–3, August 2010, Pages 147–151
Journal: Journal of Nuclear Materials - Volume 403, Issues 1–3, August 2010, Pages 147–151
نویسندگان
Nan Jiang, John C.H. Spence,