کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1588776 | 1515144 | 2015 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantitative imaging of electrospun fibers by PeakForce Quantitative NanoMechanics atomic force microscopy using etched scanning probes
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In the presented work the nanomechanical properties of four different polymer based electrospun fibers were tested using PeakForce Quantitative NanoMechanics atomic force microscopy, with standard and modified scanning probes. Standard, commercially available probes have been modified by etching using focused ion beam (FIB). Results have shown that modified probes can be used for mechanical properties mapping of biomaterial in the nanoscale, and generate nanomechanical information where conventional tips fail.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 72, May 2015, Pages 1-7
Journal: Micron - Volume 72, May 2015, Pages 1-7
نویسندگان
Adrian Chlanda, Janusz Rebis, Ewa KijeÅska, Michal J. Wozniak, Krzysztof Rozniatowski, Wojciech Swieszkowski, Krzysztof J. Kurzydlowski,