Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Field emission; Nanostructure;
مقالات ISI باریکه یونی متمرکز یا بیم (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Galvanic electroplating; 3D nanoelectrodes; Nanofluidics; Hollow nanoantennas; Cell-nanostructure interface; Focused ion beam;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Nanostructure fabrication; Radiation-induced bending;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Milling; Optical fibers; Optogenetics; Nanomachining;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Specimen preparation; Focused ion beam; Cementitious materials; Scanning Transmission Electron Holography Microscopy (STEHM); Electron diffraction pattern;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Press hardening; Hot-dip galvanizing; Phase transformations; Electron backscatter diffraction; Focused ion beam; Transmission electron microscopy;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Energy beam; Modelling; Nano-/micro machining;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; 3D; three-dimensional; AFM; atomic force microscopy; AAO; anodic aluminum oxide; ALP; alkaline phosphatase; ANSC; adult neural stem cell; AR; aspect ratio; BCP; block copolymers; BSA; bovine serum albumin; CEC; corneal epithelial cells; CHO; Chinese hamst
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Atom probe tomography; Focused ion beam; Cryogenic; Site-specific; Corrosion; Liquid/solid interfaces; Glass;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; High-temperature polymer electrolyte fuel cells; Platinum band; Focused ion beam; Break-in procedure; OCV hold test;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; 3D; three-dimensional; cryoEM; cryo-electron microscopy; CCD; charged-coupled device; CEMOVIS; cryo-electron microscopy of vitreous sections; CET; cryo-electron tomography; CLEM; correlative light electron microscopy; CMOS; complementary metal oxide semic
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Fiber optics; Optical fiber tips; Biology; Microfabrication; Optical fiber sensors; Optical fiber tweezers (OFTs); AFM; Atomic Force Microscopy; AFM-SNOM; Atomic Force Microscopy Scanning Near-field Optical Microscopy; BPENB; 1,4-bis[2-(4-pyridyl)-ethen
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Cell interface; PDMS; Elastomers;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Infiltration; Fuel cell materials; Focused ion beam; Porous material; Microstructure designing;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Atomic force microscopy; Automation;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Single-crystal diamond; Focused ion beam; Deep ultraviolet laser; Patterning; Laser Raman spectroscopy; Gallium; Heat treatment;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Atom probe tomography; Focused ion beam; Grain boundaries; Isolated dislocations; Multicrystalline silicon;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Scanning electron microscopy; Micro- and- nano patterning; Stream file;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Collagen fibril length; FIB-SEM; Focused ion beam; Serial block face-scanning electron microscopy; tendo m. stapedius;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Micromechanical characterization; Biological material; Focused ion beam;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Femtosecond laser; Silicon; Transmission electron microscopy; Amorphization; Focused ion beam; GaN; Gallium nitride; Copper; Cu; Nickel; Ni; STO; SrTiO3; Strontium titanate;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Single-crystal diamond tool; Ultraprecision machining; Texture; Friction; Cutting tool; Focused ion beam; Gallium; Heat treatment; Nickel phosphorus; Aluminum alloy;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; LAM; laser-assisted machining; SLAM; selective laser-assisted milling; SEM; scanning electron microscope; FIB; focused ion beam; Glass; Brittle material; Laser-assisted machining; Precision cutting; Milling;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; PIXE; RBS; STIM; Diseases; Whole cell imaging;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Alumina; High resolution transmission electron microscopy; Focused ion beam; Total hip replacement;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Size effect; Plastic deformation; Micro-compression; Focused ion beam; Small scales; Ashby plots;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Fatigue crack growth; Microstructurally small crack; Probabilistic analysis; Focused ion beam;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; 3D printing; Steel; Wear; Strength; Focused ion beam; Microscopy;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Cryo-ET; cryo-electron tomography; DED; direct electron detector; EM; electron microscopy; ER; endoplasmic reticulum; E-Syt; extended synaptotagmin; FIB; focused ion beam; MCS; membrane contact site; PI; phosphatidylinositol; PM; plasma membrane; SEM; sca
Analytical requirements for quantitative X-ray fluorescence nano-imaging of metal traces in solid samples
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Metal traces; Nano-imaging; Synchrotron XRF; Hard X-ray nanoprobe; FIB; X-ray Monte Carlo modeling; Archaean fossils; Barberton; XRF; X-ray fluorescence; FIB; Focused Ion Beam; MDL; Minimum Detection Limit;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; AA; 6-aminohexanoic acid; AEP; 2-aminoethyl dihydrogen phosphate; AFM; atomic force microscope(y); ANOVA; analysis of variance; CAU; cooperative activation upconversion; CR; cross relaxation; CSU; cooperative sensitization upconversion; CTAB; cetyl trimet
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Ion milling; Path generation strategy; Scanning path;
Critical review and trends in forensic investigations of crossing ink lines
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Forensic chemistry; Questioned documents; Ink analysis; Crossing inks; Intersecting lines; Pen ink; AFM; Atomic Force Microscopy; ALS; Alternating Least Squares; ANOVA; Analysis of Variance; ATR-FTIR; Attenuated Total Reflectance-Fourier Transform Infra
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Platinum nanosensor; Focused ion beam; Electrical resistivity;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Nanomachining; Thermal effects;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Residual stress; Focused ion beam; Digital image correlation; Reliability;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Thermoresistive effect; Temperature coefficient of resistance; Silicon nanowire; Amorphization; Focused ion beam
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Atom probe tomography; Sample preparation; Focused ion beam; Broad ion beam;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Pulsed laser deposition; Focused ion beam; Magnetite nanowire;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Nanocell lattice; Ion beam irradiation; InSb; Focused ion beam; Ion flux;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Phase plate; Transmission electron microscopy; Electron cryo-microscopy; Focused ion beam; Graphene; Carbon nanomembrane;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Single crystal aluminum; Size effect; Tension test; Compression test; Focused ion beam;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; CET; cryo-electron tomography; EM; electron microscopy; ER; endoplasmic reticulum; ES; expansion segment; FIB; focused ion beam; OST; oligosaccharyl-transferase; RNC; ribosome nascent chain complex; SPC; signal peptidase complex; SRP; signal recognition
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; T-tubules; Sarcoplasmic reticulum; Microtubule; 3D imaging; ER; endo-plasmic reticulum; ET; electron tomography; FIB; focused ion beam; Mito; mitochondria; MT; microtubules; SBF; serial block face; SEM; scanning electron microscopy; SL; sarcomere length;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Nanoroughness; Microbial adhesion; Titanium; SEM; Focused ion beam
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Ag-plating; X-ray fluorescence; Synchrotron radiation x-ray diffraction; Cultural heritage; Focused ion beam; Archaeometallurgy;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Cement; Hydration products; Micro-beam; Tensile strength; Fracture energy; Nanoindentation; Focused ion beam
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Surface modification; Dry etching; Laser ablation; Focused ion beam; Rough surfaces; Interface impedance; Reactive ion etching (RIE); Deep reactive ion etching (DRIE);
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; PEM-FC; Ionomer; Electron microscopy; Scanning transmission X-ray microscopy; Focused ion beam; Microtomy;
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Single crystal diamond; Multiple depth patterning; Focused ion beam; Heat treatment; Gallium ion; Defect;