آشنایی با موضوع

باریکه یونی متمرکز (به انگلیسی: Focused ion beam) روشی برای نمونه‌سنجی است که در آن از باریکه متمرکز یون‌ها برای تصویرسازی یا لایه‌برداری از نمونه استفاده می‌شود. این تکنیک در فناوری نیمه‌رسانا، مهندسی و علم مواد و ماشین‌کاری کاربرد دارد. از دیگر زمینه‌های کاربرد این فناوری زیست‌شناسی است که برای تجزیه و تحلیل، رسوب‌دهی و فرسودن بکار می‌رود. اولین سیستم‌های باریکه یونی متمرکز بر پایه تکنولوژی میدان نشر و با استفاده از منابع یونیزاسیون میدان گاز (با نماد اختصاری GFIS) در سال 1975 توسط لوی-ستی و سوانسون گورلوف توسعه یافتند. ساخت اولین دستگاه باریکه یونی متمرکز بر پایه منابع یونیزاسیون میدان گاز در سال 1978 توسط سلیگرانجام شد سیستم‌های باریکه یونی متمرکز به صورت تجاری در حدود ۱۰ سال است که تولید می‌شوند. در ابتدا کاربرد آنها فقط در صنعت نیمه‌هادی بوده است. این دستگاه‌ بیشتر شبیه دستگاه میکروسکوپی الکترونی روبشی عمل می‌کند با این تفاوت که در دستگاه‌های FIB به جای اشعه الکترونی از اشعه یون‌های گالیم استفاده می‌شود. دستگاه FIB در جریانهای پایین اشعه یون‌های گالیم برای تصویربرداری و در جریان‌های بالای یون‌های گالیم برای اهداف بخصوصی مانند ماشین‌کاری و یا پاشش اتمی استفاده می‌شود. قابل ذکر است که در دستگاه های SEM پوشش‌دهی نمونه‌های نارسانا برای تصویربرداری مورد نیاز می‌باشد. علاوه بر اشعه یونی اولیه، می‌توان ازاشعه یون‌های دیگر نیز بر روی نمونه استفاده کرد. این گازها می‌توانند با اشعه گالیم اولیه واکنش داده و به عنوان اچ کننده انتخابی سطح به کار روند و یا برای رسوب‌دهی مواد رسانا و یا نارسانا توسط اشعه یون‌های اولیه به کار روند. تا به امروز بیشترین کاربرد دستگاه FIB در صنعت نیمه‌هادی بوده است. برخی از این کاربردها عبارتند از: آنالیز عیوب، بهسازی مدار، تعمیر ماسک‌ها وآماده سازی نمونه‌های TEM. قابلیت‌های دستگاه FIB در نیمه‌هادی‌ها و مهندسی مواد: ۱- اچ کردن به کمک گازهای XeF و XeCl ۲- رسوب‌دهی فلزات ۳- ماشین‌کاری مواد تا قدرت تفکیک چند ده نانومتر ۴- تصویرگیری از سطوح با استفاده از الکترون‌ها و یون‌های ثانویه( این تصاویر می‌توانند با تصاویر SEM رقابت داشته باشند). ۵- تصویرگیری از کنتراست دانه‌ها بدون اچ کردن ماده ۶- بررسی وضعیت شیمیایی سطوح به خصوص در مطالعات خوردگی ۷-مقطع زنی و تصویر برداری از سطوح

در این صفحه تعداد 416 مقاله تخصصی درباره باریکه یونی متمرکز یا بیم که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI باریکه یونی متمرکز یا بیم (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Specimen preparation; Focused ion beam; Cementitious materials; Scanning Transmission Electron Holography Microscopy (STEHM); Electron diffraction pattern;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; 3D; three-dimensional; AFM; atomic force microscopy; AAO; anodic aluminum oxide; ALP; alkaline phosphatase; ANSC; adult neural stem cell; AR; aspect ratio; BCP; block copolymers; BSA; bovine serum albumin; CEC; corneal epithelial cells; CHO; Chinese hamst
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; 3D; three-dimensional; cryoEM; cryo-electron microscopy; CCD; charged-coupled device; CEMOVIS; cryo-electron microscopy of vitreous sections; CET; cryo-electron tomography; CLEM; correlative light electron microscopy; CMOS; complementary metal oxide semic
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Fiber optics; Optical fiber tips; Biology; Microfabrication; Optical fiber sensors; Optical fiber tweezers (OFTs); AFM; Atomic Force Microscopy; AFM-SNOM; Atomic Force Microscopy Scanning Near-field Optical Microscopy; BPENB; 1,4-bis[2-(4-pyridyl)-ethen
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Femtosecond laser; Silicon; Transmission electron microscopy; Amorphization; Focused ion beam; GaN; Gallium nitride; Copper; Cu; Nickel; Ni; STO; SrTiO3; Strontium titanate;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Single-crystal diamond tool; Ultraprecision machining; Texture; Friction; Cutting tool; Focused ion beam; Gallium; Heat treatment; Nickel phosphorus; Aluminum alloy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; LAM; laser-assisted machining; SLAM; selective laser-assisted milling; SEM; scanning electron microscope; FIB; focused ion beam; Glass; Brittle material; Laser-assisted machining; Precision cutting; Milling;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Alumina; High resolution transmission electron microscopy; Focused ion beam; Total hip replacement;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Cryo-ET; cryo-electron tomography; DED; direct electron detector; EM; electron microscopy; ER; endoplasmic reticulum; E-Syt; extended synaptotagmin; FIB; focused ion beam; MCS; membrane contact site; PI; phosphatidylinositol; PM; plasma membrane; SEM; sca
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; AA; 6-aminohexanoic acid; AEP; 2-aminoethyl dihydrogen phosphate; AFM; atomic force microscope(y); ANOVA; analysis of variance; CAU; cooperative activation upconversion; CR; cross relaxation; CSU; cooperative sensitization upconversion; CTAB; cetyl trimet
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Forensic chemistry; Questioned documents; Ink analysis; Crossing inks; Intersecting lines; Pen ink; AFM; Atomic Force Microscopy; ALS; Alternating Least Squares; ANOVA; Analysis of Variance; ATR-FTIR; Attenuated Total Reflectance-Fourier Transform Infra
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; CET; cryo-electron tomography; EM; electron microscopy; ER; endoplasmic reticulum; ES; expansion segment; FIB; focused ion beam; OST; oligosaccharyl-transferase; RNC; ribosome nascent chain complex; SPC; signal peptidase complex; SRP; signal recognition
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; T-tubules; Sarcoplasmic reticulum; Microtubule; 3D imaging; ER; endo-plasmic reticulum; ET; electron tomography; FIB; focused ion beam; Mito; mitochondria; MT; microtubules; SBF; serial block face; SEM; scanning electron microscopy; SL; sarcomere length;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Ag-plating; X-ray fluorescence; Synchrotron radiation x-ray diffraction; Cultural heritage; Focused ion beam; Archaeometallurgy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Surface modification; Dry etching; Laser ablation; Focused ion beam; Rough surfaces; Interface impedance; Reactive ion etching (RIE); Deep reactive ion etching (DRIE);