باریکه یونی متمرکز یا بیم | دانلود مقالات ISI باریکه یونی متمرکز یا بیم

آشنایی با موضوع

باریکه یونی متمرکز (به انگلیسی: Focused ion beam) روشی برای نمونه‌سنجی است که در آن از باریکه متمرکز یون‌ها برای تصویرسازی یا لایه‌برداری از نمونه استفاده می‌شود. این تکنیک در فناوری نیمه‌رسانا، مهندسی و علم مواد و ماشین‌کاری کاربرد دارد. از دیگر زمینه‌های کاربرد این فناوری زیست‌شناسی است که برای تجزیه و تحلیل، رسوب‌دهی و فرسودن بکار می‌رود. اولین سیستم‌های باریکه یونی متمرکز بر پایه تکنولوژی میدان نشر و با استفاده از منابع یونیزاسیون میدان گاز (با نماد اختصاری GFIS) در سال 1975 توسط لوی-ستی و سوانسون گورلوف توسعه یافتند. ساخت اولین دستگاه باریکه یونی متمرکز بر پایه منابع یونیزاسیون میدان گاز در سال 1978 توسط سلیگرانجام شد سیستم‌های باریکه یونی متمرکز به صورت تجاری در حدود ۱۰ سال است که تولید می‌شوند. در ابتدا کاربرد آنها فقط در صنعت نیمه‌هادی بوده است. این دستگاه‌ بیشتر شبیه دستگاه میکروسکوپی الکترونی روبشی عمل می‌کند با این تفاوت که در دستگاه‌های FIB به جای اشعه الکترونی از اشعه یون‌های گالیم استفاده می‌شود. دستگاه FIB در جریانهای پایین اشعه یون‌های گالیم برای تصویربرداری و در جریان‌های بالای یون‌های گالیم برای اهداف بخصوصی مانند ماشین‌کاری و یا پاشش اتمی استفاده می‌شود. قابل ذکر است که در دستگاه های SEM پوشش‌دهی نمونه‌های نارسانا برای تصویربرداری مورد نیاز می‌باشد. علاوه بر اشعه یونی اولیه، می‌توان ازاشعه یون‌های دیگر نیز بر روی نمونه استفاده کرد. این گازها می‌توانند با اشعه گالیم اولیه واکنش داده و به عنوان اچ کننده انتخابی سطح به کار روند و یا برای رسوب‌دهی مواد رسانا و یا نارسانا توسط اشعه یون‌های اولیه به کار روند. تا به امروز بیشترین کاربرد دستگاه FIB در صنعت نیمه‌هادی بوده است. برخی از این کاربردها عبارتند از: آنالیز عیوب، بهسازی مدار، تعمیر ماسک‌ها وآماده سازی نمونه‌های TEM. قابلیت‌های دستگاه FIB در نیمه‌هادی‌ها و مهندسی مواد: ۱- اچ کردن به کمک گازهای XeF و XeCl ۲- رسوب‌دهی فلزات ۳- ماشین‌کاری مواد تا قدرت تفکیک چند ده نانومتر ۴- تصویرگیری از سطوح با استفاده از الکترون‌ها و یون‌های ثانویه( این تصاویر می‌توانند با تصاویر SEM رقابت داشته باشند). ۵- تصویرگیری از کنتراست دانه‌ها بدون اچ کردن ماده ۶- بررسی وضعیت شیمیایی سطوح به خصوص در مطالعات خوردگی ۷-مقطع زنی و تصویر برداری از سطوح

در این صفحه تعداد 530 مقاله تخصصی درباره باریکه یونی متمرکز یا بیم که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.

مقالات ISI باریکه یونی متمرکز یا بیم (ترجمه نشده)

مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.

A contribution to the characterization of the silicate-water interface - Part II: Atom Probe Tomography of tricalcium silicate

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Atom probe tomography; Focused ion beam; Ca3SiO5; Calcium-Silicate-Hydrate (C-S-H);

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Approaching the resolution limit of W-C nano-gaps using focused ion beam chemical vapour deposition

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Nano-gap; Growth model; Resolution limit; Gaussian-Holtsmarkian distribution;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Site-controlled growth of GaN nanorod arrays by magnetron sputter epitaxy

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Gallium nitride; Magnetron sputter epitaxy; Selective-area growth; Nanorods; Lithography; Focused ion beam; Nanosphere;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

A further insight into coating-substrate interface of TiUnite implant by a novel coating detachment method

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Titanium dental implant; Anodic oxidation; TiO2 nanotubes; Focused ion beam; Coating detachment; Coating-substrate interface;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Micro and nanostructural analysis of a human tooth using correlated focused ion beam (FIB) and transmission Electron microscopy (TEM) investigations

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Electron microscopy; Focused ion beam; TEM; Nanoanalysis; Nanostructuring; Dental tissues;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Study of coal cleaning rejects by FIB and sample preparation for HR-TEM: Mineral surface chemistry and nanoparticle-aggregation control for health studies

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Coal cleaning rejects; High-resolution transmission electron microscopy; Focused ion beam; Nanominerals; Nanoparticles; Advanced characterization;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Porous PEDOT-SiO2 hybrid conductive micro particles prepared by simultaneous co-vaporized vapor phase polymerization

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; CP; conductive polymer; CT; computerized tomography; DCM; dichloromethane; EDOT; 3,4-ethylenedioxythiophene; EDS; energy dispersive X-ray spectroscopy; FIB; focused ion beam; FTS; iron (III)-Ï-toluenesulfonate; LCR; Inductor/Capacitor/Resistor; PCM; phas

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Correlative Raman spectroscopy and focused ion beam for targeted phase boundary analysis of titania polymorphs

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Raman spectroscopy; Focused ion beam; Transmission electron microscopy; Correlative; Site-specific preparation; Polymorphs; TEM; transmission electron microscopy; FIB; focused ion beam; EBSD; electron backscatter diffraction; EDS; energy-dispersive X-ray

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Controlled deposition of MOFs by dip-coating in thin film nanocomposite membranes for organic solvent nanofiltration

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; ATR; attenuated total reflection; BET; Brunauer-Emmett-Teller; COF; covalent organic frameworks; CR; Congo Red; DC; dip-coating; DMF; N,N-dimethylformamide; EA; ethyl acetate; EDX; energy-dispersive X-ray spectroscopy; ETD; Everhart-Thornley detecto

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Analysis and comparison of focused ion beam milling and vibratory polishing sample surface preparation methods for porosity study of U-Mo plate fuel for research and test reactors

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Porosity; Image analysis; MatLab; Focused ion beam; Vibratory; Uranium; Molybdenum; Fuel; Research reactor; Sample preparation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Femtosecond laser multi-patterning of zirconia for screening of cell-surface interactions

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; hMSC; Human Mesenchymal Stem Cells; FIB; Focused Ion Beam; FC; large flat cells; RS; spindle shaped rapid self-renewing cells; LTD; low temperature degradation; SEM; Scanning Electron Microscopy; WLI; white light interferometry; 3Y-TZP; tetragonal zirconi

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

{1Â 0Â â1Â 2} twin nucleation induced by FIB micro-stress in magnesium single crystal

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Magnesium single crystal; Focused ion beam; {1Â 0Â â1Â 2} twin nucleation; Micro-stress;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Experimental study of wear-induced delamination for DLC coated automotive components

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Diamond-Like Carbon coating; Delamination; In situ; Wear; Experimental characterization; Focused ion beam; Atomic force microscopy; Energy-dispersive X-ray spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

iCHORD-SI combination as an alternative to EDS-EBSD coupling for the characterization of Î³-Î³â² nickel-based superalloy microstructures

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Ion channeling; Secondary ions; EDS-EBSD coupling; Gamma - gamma prime nickel-based superalloy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Complementary analyses of aging in a commercial LiFePO4/graphite 26650 cell

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Li-ion battery; Cathode electrolyte interface; Electrochemical impedance spectroscopy; Degradation mechanisms; Focused ion beam;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 15 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Characterization of macromolecular orientation in Îº-carrageenan fibers using polarized Fourier-transform infrared spectroscopy

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Macromolecular orientation; Îº-carrageenan fiber; X-ray fiber diffraction; Polarized infrared microspectroscopy; Fourier transform infrared spectroscopy; Focused ion beam;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 18 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Practical application of direct electron detectors to EBSD mapping in 2D and 3D

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; EBSD; Direct electron detector; Medipix; 3D EBSD; SEM image drift; Focused ion beam;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 18 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Effects of the shape of small flaws and damage due to a focused ion beam on the fatigue strength characteristics of annealed mediumâcarbon steel

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Fatigue strength; Small flaw; Small fatigue crack behavior; Damaged layer; Focused ion beam;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 20 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Novel in-situ lamella fabrication technique for in-situ TEM

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Lamella preparation; In-situ heating; Lift-out; Low-kV milling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 23 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Tribology and hot forming performance of self-lubricious NC/NiBN and NC/WC:C hybrid composite coatings for hot forming die

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; ASPN; active screen plasma nitriding; ASPNC; active screen plasma nitrocarburising; BHF; blankholding force; CoF; coefficient of friction; CoFM; mean coefficient of friction; DLC; diamond-Like carbon; EDS; energy dispersive spectroscopy; FIB; focused ion

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 27 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Direct quantification of mechanical responses of TiSiN/Ag multilayer coatings through uniaxial compression of micropillars

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Multilayer coating; Micropillar compression; Focused ion beam; Size effect; Fracture behavior;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 27 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Measuring topographies from conventional SEM acquisitions

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Crystal plasticity; Digital image correlation; Focused ion beam; SEM; Topography;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 28 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Improving microstructural quantification in FIB/SEM nanotomography

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Scanning electron microscopy; 3D reconstruction; Microstructure quantification; Triple phase boundaries; Tortuosity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 43 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

A novel PFIB sample preparation protocol for correlative 3D X-ray CNT and FIB-TOF-SIMS tomography

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Sample preparation; Focused ion beam; X-ray nano-tomography; FIB-TOF-SIMS; 3D correlative tomography; Ion detection;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Investigation of the deformation behavior of aluminum micropillars produced by focused ion beam machining using Ga and Xe ions

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Ultrafine-grained aluminum; Focused ion beam; Micro-compression; Gallium;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Nuclear microprobe performance in high-current proton beam mode for micro-PIXE

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; PIXE; Focused ion beam; Elemental mapping; Element quantification; Lateral resolution; Proton beam focusing;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Deformation mechanisms induced by nanoindentation tests on a metastable austenitic stainless steel: A FIB/SIM investigation

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Metastable stainless steels; Phase transformation; Monotonic and cyclic indentation tests; Transmission electron microscopy; Electron backscattered diffraction; Focused ion beam;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

AFM reconstruction of complex-shaped chiral plasmonic nanostructures

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Atomic force microscopy; Focused ion beam; Plasmonic structures; Post-processing;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

SuRVoS: Super-Region Volume Segmentation workbench

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; CCD; Charge-coupled Device; ERF; Extremely Randomized Forest; FIB; Focused Ion Beam; MRF; Markov Random Field; RBF; Radial Basis Function; RF; Random Forest; RoI; Region of Interest; SBF; Serial Block Face; SEM; Scanning Electron Microscopy; SIRT; Simulta

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Characterisation of nanovoiding in dental porcelain using small angle neutron scattering and transmission electron microscopy

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; FIB; Focused Ion Beam; MBLEM; Multi Beam Laboratory for Engineering Microscopy; SANS; Small Angle Neutron Scattering; SEM; Scanning Electron Microscopy; TEM; Transmission Electron Microscopy; YPSZ; Yttria Partially Stabilised Zirconia; Dental porcelain; N

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Quantitative in-situ TEM nanotensile testing of single crystal Ni facilitated by a new sample preparation approach

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Twin-jet electro-polishing; Focused ion beam; In-situ TEM tensile test; FIB-induced damages; Size effect;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 18 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

FIB based fabrication of an operative Pt/HfO2/TiN device for resistive switching inside a transmission electron microscope

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; In situ TEM biasing; Resistive switching device; Metal-insulator-metal structure; Focused ion beam; Electrical characterization; Specimen preparation; Operando;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 19 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Controlled growth of periodically aligned copperâsilicide nanocrystal arrays on silicon directed by laser-induced periodic surface structures (LIPSS)

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; LIPSS; laser-induced periodic surface structures; FIB; focused ion beam; Cu-Si; copper silicide; EDX; energy dispersive X-ray spectroscopy; Nd YVO; 44neodymium-doped yttrium orthovanadate; DPSS; diode pumped solid state; FWHM; full width half maximum; SEM

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 28 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

The development of the anti-biofouling coating agent using metal nanoparticles and analysis by Raman spectroscopy and FIB system

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Biofouling; Biofilm; Silane-based resin; Focused ion beam; Raman spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 28 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Strategies to reduce detection volume of fluorescence correlation spectroscopy (FCS) to realize physiological concentration measurements

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Fluorescence correlation spectroscopy; Single molecule detection; High concentration; Stimulated emission depletion; Total internal reflection; Near-field scanning optical microscopy; Nanoantennas; Nanofluidic channels; Nanoapertures; Zero mode waveguides

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 33 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Welding and Joining of NiTi Shape Memory Alloys: A Review

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; A; austenite; BM; base material; EDS; energy dispersive spectroscopy; FIB; focused ion beam; FSW; friction stir welding; FZ; fusion zone; GTAW; gas tungsten arc welding; HAZ; heat affected zone; HI; heat input; M; martensite; MIG; metal inert gas; MAG; me

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 55 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Microstructural characterization of an irradiated RERTR-6 U-7Mo/AA4043 alloy dispersion fuel plate specimen blister-tested to a final temperature of 500Â Â°C

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; U-Mo alloy; Blister testing; Furnace heating; Nuclear fuel; Scanning electron microscopy; Transmission electron microscopy; Research reactor; Microstructure; Focused ion beam;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 67 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

A rapid FIB-notch technique for characterizing the internal morphology of high-performance fibers

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Atomic force microscopy; Morphology; High-performance fiber; Kevlar; Ultra-high-molecular-weight polyethylene

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Synthesis and microstructural characterization of a novel multicomponent equiatomic ZrNbAlTiV high entropy alloy

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; High entropy alloys; Focused ion beam; High resolution electron microscopy; Rapid solidification; Phase transformations;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Synthesis and microstructure characterization of Ni-Cr-Co-Ti-V-Al high entropy alloy coating on Ti-6Al-4V substrate by laser surface alloying

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Laser surface alloying; High entropy alloy coating; Microstructure; Focused ion beam; Thermodynamic;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Photoluminescence emission from a nanofabricated scanning probe tip made of epitaxial germanium

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Scanning probe tip; Photoluminescence; Nano-optics; Focused ion beam

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

PGM-free Fe-N-C catalysts for oxygen reduction reaction: Catalyst layer design

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Platinum group metal-free electrocatalysts; Catalyst layer morphology; Focused ion beam; Membrane electrode assembly; Polarization curves;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Electrical characterization of FIB processed metal layers for reliable conductive-AFM on ZnO microstructures

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Zinc oxide; Conductive atomic force microscopy; Focused ion beam; Nanostructure; Ohmic contact;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Cost effective MEMS fabrication of a nanowire characterization platform with solder coated electrodes

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; PVD; physical vapor deposition; TMAH; tetramethylammonium hydroxide; KOH; potassium hydroxide; HCL; hydrogen chloride; TNCP; thermoelectric nanowire characterization platform; TEM; transmission electron microscopy; FIB; Focused ion beam; SEM; scanning ele

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

An experimental methodology to quantify the resistance of grain boundaries to fatigue crack growth in an AA2024 T351 Al-Cu Alloy

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Grain boundary resistance; Fatigue crack; Growth rate; Focused ion beam; EBSD;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

3D Auger quantitative depth profiling of individual nanoscaled III-V heterostructures

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; 81.05.Ea; 81.07.St; 68.65.Fg; 68.37.Xy; MOSFETs; metal oxide semiconductor field effect transistors; QWFETs; quantum well field effect transistors; QW; quantum well; RSFs; relative sensitivity factors; AES; Auger electron spectroscopy; SIMS; secondary ion

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Interface behavior of particles upon impacting during cold spraying of Cu/Ni/Al mixture

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Cold spraying; Interface bonding; Focused ion beam; Recrystallization;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

On the chemistry of the carbides in a molybdenum base Mo-Hf-C alloy produced by powder metallurgy

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Molybdenum-hafnium-carbon; MHC; Atom probe tomography; Focused ion beam; Transmission Kikuchi diffraction; Molydenum carbide; Hafnium carbide; Ab initio calculations; Powder metallurgy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Determination of the elastic moduli and residual stresses of freestanding Au-TiW bilayer thin films by nanoindentation

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Micro electro-mechanical systems; Elastic modulus, residual stress; Nanoindentation; Focused ion beam

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

FIB-induced dislocations in Al submicron pillars: Annihilation by thermal annealing and effects on deformation behavior

Keywords: باریکه یونی متمرکز یا بیم; Focused ion beam; Aluminum; Dislocations; Annealing; In-situ transmission electron microscopy; Slip bursts;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

<< < 1 2 3 4 5 > >>

علوم انسانی و هنر

فنی، مهندسی و علوم پایه

پزشکی و سلامت

بیو تکنولوژی

پذیرش سفارش ترجمه

دانلود مقالات ISI درباره باریکه یونی متمرکز یا بیم + ترجمه فارسی

آشنایی با موضوع

دسترسی سریع

ارتباط

English Website