کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1608058 | 1516242 | 2015 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Self-rectifying resistive switching behavior observed in Si3N4-based resistive random access memory devices
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فلزات و آلیاژها
پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Alloys and Compounds - Volume 651, 5 December 2015, Pages 340-343
Journal: Journal of Alloys and Compounds - Volume 651, 5 December 2015, Pages 340-343
نویسندگان
Hee-Dong Kim, Minju Yun, Sungho Kim,