کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1618198 | 1005702 | 2010 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Multiferroic behavior and electrical conduction of BiFeO3 thin film deposited on quartz substrate
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فلزات و آلیاژها
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Multiferroic BiFeO3 thin films were deposited on SrRuO3-buffered quartz substrates by off-axis radio frequency magnetron sputtering. The BiFeO3 thin film exhibits the desired multiferroic behavior (2Pr ∼ 97.41 μC/cm2 and 2Ms ∼ 10.3 emu/cm3). On the basis of the temperature- and frequency-dependent impedance studies, oxygen vacancies are shown to be responsible for the dielectric relaxation and conduction in the BiFeO3 thin film, where the scaling behavior of imaginary part of the electric modulus suggests that the relaxation mechanism does not change over the temperature range investigated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Alloys and Compounds - Volume 507, Issue 1, 24 September 2010, Pages L4–L7
Journal: Journal of Alloys and Compounds - Volume 507, Issue 1, 24 September 2010, Pages L4–L7
نویسندگان
Jiagang Wu, John Wang,