کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1621935 | 1516399 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Investigations of the properties of Zn1âxCrxO thin films grown by RF magnetron sputtering
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فلزات و آلیاژها
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
This work investigated the properties of Cr doped ZnO (Zn1âxCrxO) thin films with different doping concentrations (x = 0.05, 0.15, 0.30) on a Si (1 0 0) substrate using RF magnetron sputtering. These films have been characterized by powder X-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy (AFM) and vibrating sample magnetometer (VSM) measurements to investigate structural, morphological and magnetic properties. XRD results reveal that the wurtzite structure deviates for the films with higher concentrations of Cr. The VSM measurements show the ferromagnetic behaviour for all the Cr doped ZnO films at room temperature.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Alloys and Compounds - Volume 478, Issues 1â2, 10 June 2009, Pages 45-48
Journal: Journal of Alloys and Compounds - Volume 478, Issues 1â2, 10 June 2009, Pages 45-48
نویسندگان
J. Elanchezhiyan, K.P. Bhuvana, N. Gopalakrishnan, B.C. Shin, W.J. Lee, T. Balasubramanian,