کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1657404 | 1517627 | 2014 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Focused ion beam four-slot milling for Poisson's ratio and residual stress evaluation at the micron scale
ترجمه فارسی عنوان
تراشکاری چهار تکه یونی متمرکز شده برای نسبت پواسون و بررسی استرس باقی مانده در مقیاس میکرون
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
The methodology has been fully validated through modelling and experiments on three different materials, namely, physical vapour deposition (PVD) chromium nitride (CrN), and as-deposited and annealed Cu thin films. The cases of non-equibiaxial stress state and non-isotropic elastic behaviour are discussed in detail, and a quantitative evaluation of the accuracy, error sensitivity and the effects of microstructure and anisotropy is presented. This method represents a substantial improvement over the existing state-of-the-art. It is suitable for application on amorphous and nanostructured materials, and provides a breakthrough in micro-scale Poisson's ratio analysis of thin films and small structures and components.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 251, 25 July 2014, Pages 151-161
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 251, 25 July 2014, Pages 151-161
نویسندگان
M. Sebastiani, C. Eberl, E. Bemporad, A.M. Korsunsky, W.D. Nix, F. Carassiti,