Two-dimensional Kikuchi patterns of Si as measured using an electrostatic analyser

کد مقاله	کد نشریه	سال انتشار	مقاله انگلیسی	نسخه تمام متن
1677334	1518308	2016	7 صفحه PDF	دانلود رایگان

عنوان انگلیسی مقاله ISI

رایگان برای ایرانیان

کلمات کلیدی

موضوعات مرتبط

مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)

پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 171, December 2016, Pages 19–25