کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1677630 1518348 2013 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Laboratory-based real and reciprocal space imaging of the electronic structure of few layer graphene on SiC(0001¯) using photoelectron emission microscopy
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Laboratory-based real and reciprocal space imaging of the electronic structure of few layer graphene on SiC(0001¯) using photoelectron emission microscopy
چکیده انگلیسی
► Laboratory-based, energy-filtered PEEM using a focused VUV source. ► Dark field imaging of commensurate rotations in Graphene. ► Full 2D band structure using He II radiation. ► Light polarization to study aspects of electronic chirality.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 130, July 2013, Pages 94-100
نویسندگان
, , , ,