کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677630 | 1518348 | 2013 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Laboratory-based real and reciprocal space imaging of the electronic structure of few layer graphene on SiC(0001¯) using photoelectron emission microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Laboratory-based, energy-filtered PEEM using a focused VUV source. ⺠Dark field imaging of commensurate rotations in Graphene. ⺠Full 2D band structure using He II radiation. ⺠Light polarization to study aspects of electronic chirality.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 130, July 2013, Pages 94-100
Journal: Ultramicroscopy - Volume 130, July 2013, Pages 94-100
نویسندگان
N. Barrett, K. Winkler, B. Krömker, E.H. Conrad,