| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 1677630 | 1518348 | 2013 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												Laboratory-based real and reciprocal space imaging of the electronic structure of few layer graphene on SiC(0001¯) using photoelectron emission microscopy
												
											دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												کلمات کلیدی
												
											موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													مهندسی مواد
													فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
												
											پیش نمایش صفحه اول مقاله
												 
												چکیده انگلیسی
												⺠Laboratory-based, energy-filtered PEEM using a focused VUV source. ⺠Dark field imaging of commensurate rotations in Graphene. ⺠Full 2D band structure using He II radiation. ⺠Light polarization to study aspects of electronic chirality.
											ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 130, July 2013, Pages 94-100
											Journal: Ultramicroscopy - Volume 130, July 2013, Pages 94-100
نویسندگان
												N. Barrett, K. Winkler, B. Krömker, E.H. Conrad,