کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677715 | 1518350 | 2013 | 14 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Combination of in situ straining and ACOM TEM: A novel method for analysis of plastic deformation of nanocrystalline metals
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
MFPIMFPUFGODFCLSPTPEBSDUltra-fine grained - دانه های فوق العاده خوبIn situ straining - در انباشتگیelectron backscatter diffraction - روش پراش الکترون های به عقب رانده شدهStem - ساقهCoincidence site lattice - شبکۀ شبکه تصادفیNanocrystalline metals - فلزات نانوکریستالMean free path - مسیر آزاد متوسطInelastic mean free path - مسیر آزادانه معنی نداردDeformation mechanism - مکانیزم تغییر شکلNanocrystalline - نانوکریستالXRD - پراش اشعه ایکسX-ray diffraction - پراش اشعه ایکس
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Combination of in situ straining and ACOM TEM: A novel method for analysis of plastic deformation of nanocrystalline metals Combination of in situ straining and ACOM TEM: A novel method for analysis of plastic deformation of nanocrystalline metals](/preview/png/1677715.png)
چکیده انگلیسی
⺠ACOM-STEM is combined with in situ straining for thin film mechanical testing. ⺠Direct observation of structural changes in micro- and macroplastic regime. ⺠The local and global grain rotation, grain growth and twinning are quantified.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 128, May 2013, Pages 68-81
Journal: Ultramicroscopy - Volume 128, May 2013, Pages 68-81
نویسندگان
A. Kobler, A. Kashiwar, H. Hahn, C. Kübel,