کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677755 | 1518365 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Nanoscale quantitative phase imaging using XOR-based X-ray differential interference contrast microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Proposed a quantitative x-ray phase imaging method using XOR-based DIC microscopy. ⺠Implemented bias retardation by shifting the grating with respect to the zone-plate. ⺠A nonlinear regression algorithm is used to extract the object's phase distribution. ⺠Both quantitative phase reconstruction and qualitative DIC imaging are demonstrated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 113, February 2012, Pages 139-144
Journal: Ultramicroscopy - Volume 113, February 2012, Pages 139-144
نویسندگان
Takashi Nakamura, Chang Chang,