کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1677887 1009918 2011 11 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy
چکیده انگلیسی
► We have simulated HREM images incorporating fully bonded DFT charge density. ► Bonding electrons contribute up to 25% of total image contrast. ► Dynamical amplification increases bond contrast for thick (>20 nm) crystals. ► Bonding contrast limited by signal/noise, not resolution (Cs corrector unnecessary).
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 7, June 2011, Pages 901-911
نویسندگان
, , , , ,