کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677887 | 1009918 | 2011 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy](/preview/png/1677887.png)
چکیده انگلیسی
⺠We have simulated HREM images incorporating fully bonded DFT charge density. ⺠Bonding electrons contribute up to 25% of total image contrast. ⺠Dynamical amplification increases bond contrast for thick (>20 nm) crystals. ⺠Bonding contrast limited by signal/noise, not resolution (Cs corrector unnecessary).
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 7, June 2011, Pages 901-911
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 7, June 2011, Pages 901-911
نویسندگان
J. Ciston, J.S. Kim, S.J. Haigh, A.I. Kirkland, L.D. Marks,