کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677914 | 1009921 | 2010 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Study of atomic resolved plasmon-loss image by spherical aberration-corrected STEM-EELS method
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
To gain an understanding of a plasmon-loss image obtained with an atomic resolution scanning transmission electron microscope (STEM)-electron energy loss spectroscopy (EELS) method, the detailed analysis is experimentally and theoretically performed. In order to theoretically explain a plasmon-loss image, a dynamical simulation method of the plasmon-loss image combined with a first-principle calculation is firstly proposed. By making comparisons between simulated and experimental plasmon-loss images, we find that the experimental plasmon-loss images closely resemble the high-angle bright-field STEM images, which show the reverse contrast of the corresponding high-angle annular dark-field STEM image.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 9, August 2010, Pages 1161–1165
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 9, August 2010, Pages 1161–1165
نویسندگان
Takashi Yamazaki, Yasutoshi Kotaka, Mineharu Tsukada, Yuji Kataoka,