دانلود رایگان مقالات نشریه ISI فراریز نما

The role of helium ion microscopy in the characterisation of complex three-dimensional nanostructures

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

‘Collapsing rings’ on Schottky electron emitters

12 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A TEM phase plate loading system with loading monitoring and nano-positioning functions

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Optimization of STEM tomography acquisition — A comparison of convergent beam and parallel beam STEM tomography

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A new method for the reconstruction of micro- and nanoscale planar periodic structures

8 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography

8 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Bridging the gap between conventional and video-speed scanning probe microscopes

10 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Determination of analytical expansion from numerical field data

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A procedure for identifying textile bast fibres using microscopy: Flax, nettle/ramie, hemp and jute

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Energy selective scanning electron microscopy to reduce the effect of contamination layers on scanning electron microscope dopant mapping

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A place of healing for the soul

13 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A precession electron diffraction study of α, β phases and Dauphiné twin in quartz

12 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Study of atomic resolved plasmon-loss image by spherical aberration-corrected STEM-EELS method

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Characterization of MEMS piezoresistive pressure sensors using AFM

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Fabrication and characterization of low aberration micrometer-sized electron lenses

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Scanning transmission X-ray microscopy with a fast framing pixel detector

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Fully three-dimensional defocus-gradient corrected backprojection in cryoelectron microscopy

15 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Quantification of metallic nanoparticle morphology on TiO2 using HAADF-STEM tomography

8 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Nanometer-resolution electron microscopy through micrometers-thick water layers

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2010 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه