کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678344 | 1009939 | 2006 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Apparent height in tapping mode of electrostatic force microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Apparent height in tapping mode of electrostatic force microscopy Apparent height in tapping mode of electrostatic force microscopy](/preview/png/1678344.png)
چکیده انگلیسی
We investigate a source of error in electrostatic force microscopy (EFM) measurements. During EFM, the probe performs two scans: the first to obtain the topography in tapping mode and the second at a chosen lift height to measure the electrostatic force. However, during the first scan, the electrostatic force between the probe and sample can cause error in the height measurement. In this work, micron-sized wires are fabricated, and test voltages applied. Experiments demonstrate that attractive electrostatic forces result in erroneous height measurements. A tip–sample interaction model is provided.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 106, Issue 7, May 2006, Pages 582–586
Journal: Ultramicroscopy - Volume 106, Issue 7, May 2006, Pages 582–586
نویسندگان
Minjun Yan, Gary H. Bernstein,