کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678485 | 1009943 | 2006 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Lensless electron reflection microscopy using a coaxial point-source structure
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A lensless image of the surface of a crystal is obtained by the reflection on this surface of a low-energy electron beam originated from a point source integrated in a coaxial structure. The point source is a sharp field emission tip and a free propagation of reflected electrons results from the shielding of the tip voltage provided by the coaxial structure. Images are obtained for an incidence angle between 3 and 45° and for nA incident currents with a kinetic energy down to 40 V. On silicon surfaces a magnification up to a few thousands and a spatial resolution of 100 nm are demonstrated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 106, Issue 6, April 2006, Pages 480-485
Journal: Ultramicroscopy - Volume 106, Issue 6, April 2006, Pages 480-485
نویسندگان
Zoubida Hammadi, Roger Morin,