کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678774 | 1009962 | 2007 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Depth sectioning in scanning transmission electron microscopy based on core-loss spectroscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Recent and ongoing improvements in aberration correction have opened up the possibility of depth sectioning samples using the scanning transmission electron microscope in a fashion similar to the confocal scanning optical microscope. We explore questions of principle relating to image interpretability in the depth sectioning of samples using electron energy loss spectroscopy. We show that provided electron microscope probes are sufficiently fine and detector collection semi-angles are sufficiently large we can expect to locate dopant atoms inside a crystal. Furthermore, unlike high angle annular dark field imaging, electron energy loss spectroscopy can resolve dopants of smaller atomic mass than the supporting crystalline matrix.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 108, Issue 1, December 2007, Pages 17–28
Journal: Ultramicroscopy - Volume 108, Issue 1, December 2007, Pages 17–28
نویسندگان
A.J. D’Alfonso, S.D. Findlay, M.P. Oxley, S.J. Pennycook, K. van Benthem, L.J. Allen,