کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1689280 | 1011224 | 2010 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural studies of ZnS thin films grown on GaAs by RF magnetron sputtering
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Structural studies of ZnS thin films grown on GaAs by RF magnetron sputtering Structural studies of ZnS thin films grown on GaAs by RF magnetron sputtering](/preview/png/1689280.png)
چکیده انگلیسی
X-ray diffraction (XRD) studies of ZnS thin films grown on GaAs (001) substrates at different temperatures by rf magnetron sputtering have been carried out using CuKα radiation. XRD analysis reveals that deposited films below 335 °C, assumed the zinc blend structure. Samples annealed at above 335 °C showed mixed phases of the zinc blend and wurzite structures. Information about crystallite size is obtained from (001), (111) and (104) diffraction peaks. The average crystallite size of the film was determined to be ∼ 32 nm using the Scherrer formula.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Vacuum - Volume 84, Issue 10, 19 May 2010, Pages 1191–1194
Journal: Vacuum - Volume 84, Issue 10, 19 May 2010, Pages 1191–1194
نویسندگان
V.L. Gayou, B. Salazar-Hernandez, M.E. Constantino, E. Rosendo Andrés, T. Díaz, R. Delgado Macuil, M. Rojas López,