کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1809371 | 1525193 | 2014 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Parameterization of the dielectric function of semiconductor nanocrystals
ترجمه فارسی عنوان
پارامتر کردن عملکرد دی الکتریک نانوبلورهای نیمه هادی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
بیضه سنجی طیف سنجی، عملکرد دی الکتریک، نیمه هادی نانوکریستال، تنظیم پارامتر
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
چکیده انگلیسی
Optical methods like spectroscopic ellipsometry are sensitive to the structural properties of semiconductor films such as crystallinity or grain size. The imaginary part of the dielectric function is proportional to the joint density of electronic states. Consequently, the analysis of the dielectric function around the critical point energies provides useful information about the electron band structure and all related parameters like the grain structure, band gap, temperature, composition, phase structure, and carrier mobility. In this work an attempt is made to present a selection of the approaches to parameterize and analyze the dielectric function of semiconductors, as well as some applications.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physica B: Condensed Matter - Volume 453, 15 November 2014, Pages 2–7
Journal: Physica B: Condensed Matter - Volume 453, 15 November 2014, Pages 2–7
نویسندگان
P. Petrik,