کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1815371 | 1025663 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
3D invariant embedding model for backscattering electrons applied to materials characterization
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
In this work, the results of a 3D model used to describe the fraction of backscattered electrons, together with its energy and angular distributions, are reported. This 3D model is the result of improvements in the Invariant Embedding Approach to Microanalysis (IEAM). Comparisons with experiment show that the theoretical results follow the general trend of experimental data, when parameters (such as atomic number, energy of the impinging electrons and tilted angle) are changed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physica B: Condensed Matter - Volume 398, Issue 2, 1 September 2007, Pages 356–359
Journal: Physica B: Condensed Matter - Volume 398, Issue 2, 1 September 2007, Pages 356–359
نویسندگان
C. Figueroa, N. Nieva, S.P. Heluani,