کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1876125 | 1041983 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Depth profiling 137Cs and 60Co non-intrusively for a suite of industrial shielding materials and at depths beyond 50Â mm
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
تشعشع
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Depth profiling 137Cs and 60Co non-intrusively for a suite of industrial shielding materials and at depths beyond 50Â mm Depth profiling 137Cs and 60Co non-intrusively for a suite of industrial shielding materials and at depths beyond 50Â mm](/preview/png/1876125.png)
چکیده انگلیسی
⺠Depth profiling radiological point sources using principal component analysis. ⺠Non-intrusively by deriving a function of depth. ⺠Expanded for different shielding materials. ⺠Depth profiling beyond 50 mm shielding depth also achieved.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Radiation and Isotopes - Volume 70, Issue 7, July 2012, Pages 1150-1153
Journal: Applied Radiation and Isotopes - Volume 70, Issue 7, July 2012, Pages 1150-1153
نویسندگان
Jamie C. Adams, Malcolm J. Joyce, Matthew Mellor,