کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4971851 1450536 2016 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Laser Voltage Probing (LVP) - Its value and the race against scaling
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Laser Voltage Probing (LVP) - Its value and the race against scaling
چکیده انگلیسی
After providing a brief introduction to Laser Voltage Probing (LVP), along with useful information and further reading suggestions, this paper provides a deep dive into current benefits and challenges of LVP applied to 16/14 nm FinFET technology and discusses the issues that arise from scaling of technology nodes according to the International Technology Roadmap for Semiconductors.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 294-298
نویسندگان
,