کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4971851 | 1450536 | 2016 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Laser Voltage Probing (LVP) - Its value and the race against scaling
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
After providing a brief introduction to Laser Voltage Probing (LVP), along with useful information and further reading suggestions, this paper provides a deep dive into current benefits and challenges of LVP applied to 16/14Â nm FinFET technology and discusses the issues that arise from scaling of technology nodes according to the International Technology Roadmap for Semiconductors.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 294-298
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 294-298
نویسندگان
Ulrike Ganesh,