کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4972361 | 1450752 | 2017 | 15 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Memory mutation testing
ترجمه فارسی عنوان
تست جهش حافظه
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
آزمایش موتاسیون، جهش حافظه،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
تعامل انسان و کامپیوتر
چکیده انگلیسی
Introducing Memory Mutation Operators will cost only a small portion of the overall testing effort, yet generate higher quality mutants compared with traditional operators. Moreover, TCE technique does not only help with reducing testing effort, but also improves the precision of assessment on test quality, therefore should be considered in other Mutation Testing studies.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Information and Software Technology - Volume 81, January 2017, Pages 97-111
Journal: Information and Software Technology - Volume 81, January 2017, Pages 97-111
نویسندگان
Fan Wu, Jay Nanavati, Mark Harman, Yue Jia, Jens Krinke,