کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5258886 1385051 2016 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Pamam built-on-silicon wafer thin-layer extraction devices for selective metal contamination detection
ترجمه فارسی عنوان
پامام ساخته شده بر روی سیلیکون ویفر دستگاه های استخراج نازک برای تشخیص آلودگی فلز انتخابی
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی آلی
پیش نمایش مقاله
پامام ساخته شده بر روی سیلیکون ویفر دستگاه های استخراج نازک برای تشخیص آلودگی فلز انتخابی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Tetrahedron Letters - Volume 57, Issue 23, 8 June 2016, Pages 2468-2473
نویسندگان
, , , , , ,