کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5349853 | 1503652 | 2014 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
AFM imaging and fractal analysis of surface roughness of AlN epilayers on sapphire substrates
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
- We determined the complexity of 3D surface roughness of aluminum nitride layers.
- We used atomic force microscopy and analyzed their fractal geometry.
- We determined the fractal dimension of surface roughness of aluminum nitride layers.
- We determined the dependence of layer morphology on substrate temperature.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 312, 1 September 2014, Pages 81-86
Journal: Applied Surface Science - Volume 312, 1 September 2014, Pages 81-86
نویسندگان
Dinara Dallaeva, Åtefan Å¢Älu, Sebastian Stach, Pavel Å karvada, Pavel Tománek, LubomÃr Grmela,