کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5355195 | 1503598 | 2016 | 41 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
TiN-buffered substrates for photoelectrochemical measurements of oxynitride thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 369, 30 April 2016, Pages 67-75
Journal: Applied Surface Science - Volume 369, 30 April 2016, Pages 67-75
نویسندگان
Markus Pichler, Daniele Pergolesi, Steve Landsmann, Vipin Chawla, Johann Michler, Max Döbeli, Alexander Wokaun, Thomas Lippert,