کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5358674 | 1388235 | 2011 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effects of magnesium film thickness and annealing temperature on formation of Mg2Si films on silicon (1Â 1Â 1) substrate deposited by magnetron sputtering
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠We report preparation of Mg2Si films by magnetron sputtering method. ⺠We report effect of deposited Mg film thickness on formation. ⺠We report effect of annealing temperature on formation. ⺠High quality Mg2Si films are prepared directly by annealing at 400 °C for 5 h. ⺠The texture of Mg2Si films becomes dense as deposited Mg film thickness increases.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 257, Issue 17, 15 June 2011, Pages 7800-7804
Journal: Applied Surface Science - Volume 257, Issue 17, 15 June 2011, Pages 7800-7804
نویسندگان
Qingquan Xiao, Quan Xie, Xiangqian Shen, Jinmin Zhang, Zhiqiang Yu, Kejie Zhao,