کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5359968 | 1503643 | 2014 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
MEIS, TEM and GISAXS investigation of buried Pb nanoislands in SiO2/Si interface
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: MEIS, TEM and GISAXS investigation of buried Pb nanoislands in SiO2/Si interface MEIS, TEM and GISAXS investigation of buried Pb nanoislands in SiO2/Si interface](/preview/png/5359968.png)
چکیده انگلیسی
A combination of medium energy ion scattering (MEIS), grazing incidence small angle X-ray scattering and transmission electron microscopy techniques was used to investigate a planar set of Pb nanoparticles (NPs) located at the SiO2/Si interface synthesized by ion implantation, and the bimodal NPs' shape nature of this system was revealed. The present results help to improve the understanding of the use of MEIS on the investigation of the microstructural and morphological properties of buried nanostructured systems and show the importance of the combination with appropriate complementary techniques.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 321, 1 December 2014, Pages 80-85
Journal: Applied Surface Science - Volume 321, 1 December 2014, Pages 80-85
نویسندگان
D.F. Sanchez, F. Rodrigues, F.P. Luce, Z.E. Fabrim, G. de M. Azevedo, G. Kellermann, D.L. Baptista, P.L. Grande, P.F.P. Fichtner,