کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5362367 | 1388284 | 2008 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural studies of evaporated CoxCr1âx/Si (1Â 0Â 0) and CoxCr1âx/glass thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Series of CoxCr1âx thin films have been evaporated under vacuum onto Si (1Â 0Â 0) and glass substrates. Chemical composition and interface properties have been studied by modelling Rutherford backscattering spectra (RBS) using SIMNRA programme. Thickness ranges from 17 to 220Â nm, and x from 0.80 to 0.88. Simulation of the energy spectra shows an interdiffusion profile in the thickest films, but no diffusion is seen in thinner ones. Microscopic characterizations of the films are done with X-ray diffraction (XRD) measurements. All the samples are polycrystalline, with an hcp structure and show a ã0Â 0Â 0Â 1ã preferred orientation. Atomic force microscopies (AFM) reveal very smooth film surfaces.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 254, Issue 18, 15 July 2008, Pages 5732-5735
Journal: Applied Surface Science - Volume 254, Issue 18, 15 July 2008, Pages 5732-5735
نویسندگان
A. Kharmouche, I. Djouada,