کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5423659 | 1507946 | 2011 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Depth-profiling the composition of bimetallic nanoparticles using medium energy ion scattering
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠An analysis tool for depth profiling bimetallic nanoparticles with MEIS. ⺠Near monolayer resolution enables the detection of segregation effects. ⺠AuPd particles on silica form Au rich shells and Pd rich cores.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 605, Issues 1â2, January 2011, Pages 220-224
Journal: Surface Science - Volume 605, Issues 1â2, January 2011, Pages 220-224
نویسندگان
Johan Gustafson, Andrew R. Haire, Christopher J. Baddeley,