کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5466628 | 1518295 | 2018 | 21 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Comparison of dislocation characterization by electron channeling contrast imaging and cross-correlation electron backscattered diffraction
ترجمه فارسی عنوان
مقایسه ویژگی های جابجایی توسط تصویربرداری کنترلی کانال کننده الکترونی و پراش فراصوت الکترونی متقابل پیوند
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
In this work, the relative capabilities and limitations of electron channeling contrast imaging (ECCI) and cross-correlation electron backscattered diffraction (CC-EBSD) have been assessed by studying the dislocation distributions resulting from nanoindentation in body centered cubic Ta. Qualitative comparison reveals very similar dislocation distributions between the CC-EBSD mapped GNDs and the ECC imaged dislocations. Approximate dislocation densities determined from ECC images compare well to those determined by CC-EBSD. Nevertheless, close examination reveals subtle differences in the details of the distributions mapped by these two approaches. The details of the dislocation Burgers vectors and line directions determined by ECCI have been compared to those determined using CC-EBSD and reveal good agreement.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 184, Part A, January 2018, Pages 125-133
Journal: Ultramicroscopy - Volume 184, Part A, January 2018, Pages 125-133
نویسندگان
Bret E. Dunlap, Timothy J. Ruggles, David T. Fullwood, Brian Jackson, Martin A. Crimp,