کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5466660 1518298 2017 15 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Accuracy and precision of thickness determination from position-averaged convergent beam electron diffraction patterns using a single-parameter metric
ترجمه فارسی عنوان
دقت و دقت اندازه گیری ضخامت از الگوی پراش الکترونی پرتو همگرا با استفاده از یک پارامتر تک پارامتر
ترجمه چکیده
الگوهای پراش الکترونی پرتوهای همگرایی میانگین به صورت میانگین با استفاده از الگوی پراکندگی انتقال در حالی که اسکن یک پروب الکترونی دقیق بر روی یک نمونه را تشکیل می دهند، شکل می گیرد. مقایسه بصری بین الگوهای تجربی و شبیه سازی به طور فزاینده ای برای تعیین ضخامت نمونه مورد استفاده قرار می گیرد. ما برای مقایسه اتوماتیک با استفاده از یک معادله ساده مربع تفاوت می کنیم. تعیین ضخامت نشان داده شده است دقیق (به عنوان مثال، ضخامت نتیجه به خوبی حدس می زنند عموما با ضخامت واقعی همخوانی دارد)، هر چند عوامل مانند نویز، اشتباه و پراکندگی ناپیانی دقت (یعنی افزایش محدوده عدم اطمینان) را کاهش می دهد. بدیهی است که دقت برای زاویه دیافراگم کوچکتر پروب شکل گرایش دارد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
Position-averaged convergent beam electron diffraction patterns are formed by averaging the transmission diffraction pattern while scanning an atomically-fine electron probe across a sample. Visual comparison between experimental and simulated patterns is increasingly being used for sample thickness determination. We explore automating the comparison via a simple sum square difference metric. The thickness determination is shown to be accurate (i.e. the best-guess deduced thickness generally concurs with the true thickness), though factors such as noise, mistilt and inelastic scattering reduce the precision (i.e. increase the uncertainty range). Notably, the precision tends to be higher for smaller probe-forming aperture angles.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 181, October 2017, Pages 86-96
نویسندگان
, , , , ,