کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5467302 | 1518611 | 2017 | 51 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Dynamic transfer applied to secondary ion imaging over large scanned fields with the nanoSIMS 50 at high mass resolution
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
These results led us to propose several instrumental improvements including the crucial interest of an additional octopole upstream in the primary ion probe column to prevent scanning distortion when performing astigmatism correction and the possibility of offsetting primary beam deviating plates to bring scanning and imaging centers in coincidence.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 412, 1 December 2017, Pages 123-173
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 412, 1 December 2017, Pages 123-173
نویسندگان
Georges Slodzian, Ting-Di Wu, Jean Duprat, Cécile Engrand, Jean-Luc Guerquin-Kern,