کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6945728 1450518 2018 11 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Thermal stress probing the channel-length modulation effect of nano n-type FinFETs
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Thermal stress probing the channel-length modulation effect of nano n-type FinFETs
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 83, April 2018, Pages 260-270
نویسندگان
, , , , , , ,