کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7150168 1462185 2018 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Investigation of avalanche ruggedness of 650 V Schottky-barrier rectifiers
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Investigation of avalanche ruggedness of 650 V Schottky-barrier rectifiers
چکیده انگلیسی
Avalanche breakdown of novel 650 V SiC Schottky-barrier rectifiers is investigated. The rectifier diode has low leakage current for the temperatures up to 300 °C. Thermal coefficient of avalanche breakdown increases with the temperature to around 0.009%/K at 200 °C. Near-uniform avalanche breakdown is verified using emission imaging, and maximum specific avalanche energy of 20.7 J/cm2 is achieved. The critical temperature for stability in unclamped inductive switching (UIS) is above 520 °C as estimated through thermal simulation. Long-term walkout of breakdown voltage at 176 °C is less than 0.02%.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 148, October 2018, Pages 51-57
نویسندگان
, , , , , , ,