کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7150899 1462217 2016 10 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Closed form expressions for sheet resistance and mobility from Van-der-Pauw measurement on 90° symmetric devices with four arbitrary contacts
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Closed form expressions for sheet resistance and mobility from Van-der-Pauw measurement on 90° symmetric devices with four arbitrary contacts
چکیده انگلیسی
Accurate closed form expressions for extraction of sheet resistance and mobility from Van-der-Pauw measurement on devices with four large contacts and 90° symmetry.190
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 116, February 2016, Pages 46-55
نویسندگان
,