کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7150921 | 1462217 | 2016 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Impact of gate dielectric constant variation on tunnel field-effect transistors (TFETs)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The influence of gate dielectric constant variation on tunnel field-effect transistors (TFETs) has been investigated. High-κ materials in polycrystalline nature induce localized gate dielectric constant variation. According to the simulation results, TFETs show larger standard deviation of threshold voltage (Vth), subthreshold swing (SS) and saturation current (Id,sat) than metal-oxide-semiconductor FETs (MOSFETs). It has been revealed that local gate dielectric constant variation should be considered to evaluate the total variation of TFETs. This is because the gate insulator near the source region dominates TFET performance. Also, the ideas have been proposed in order to reduce the gate dielectric constant variation.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 116, February 2016, Pages 88-94
Journal: Solid-State Electronics - Volume 116, February 2016, Pages 88-94
نویسندگان
Seung Kyu Kim, Woo Young Choi,