کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7151141 1462258 2012 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Virtually dopant-free CMOS: Midgap Schottky-barrier nanowire field-effect-transistors for high temperature applications
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Virtually dopant-free CMOS: Midgap Schottky-barrier nanowire field-effect-transistors for high temperature applications
چکیده انگلیسی
► Virtually dopant-free CMOS Pi-gate silicon-nanowire FET SOI technology. ► Midgap Schottky-barrier source/drain enabling carrier tunneling. ► Use of Schottky-barriers provides low source/drain leakage. ► Two low-power operation modes with varied source/drain bias polarity. ► Overall low leakage allows the use in high temperature environments.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 74, August 2012, Pages 91-96
نویسندگان
, , ,