کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7151141 | 1462258 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Virtually dopant-free CMOS: Midgap Schottky-barrier nanowire field-effect-transistors for high temperature applications
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Virtually dopant-free CMOS Pi-gate silicon-nanowire FET SOI technology. ⺠Midgap Schottky-barrier source/drain enabling carrier tunneling. ⺠Use of Schottky-barriers provides low source/drain leakage. ⺠Two low-power operation modes with varied source/drain bias polarity. ⺠Overall low leakage allows the use in high temperature environments.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 74, August 2012, Pages 91-96
Journal: Solid-State Electronics - Volume 74, August 2012, Pages 91-96
نویسندگان
F. Wessely, T. Krauss, U. Schwalke,