کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7151167 1462258 2012 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
PureGaB p+n Ge diodes grown in large windows to Si with a sub-300 nm transition region
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
PureGaB p+n Ge diodes grown in large windows to Si with a sub-300 nm transition region
چکیده انگلیسی
► Monocrystalline Ge-on-Si is grown in large windows with ∼ 300 nm transition region. ► Growth is at 700 °C in a standard Si/SiGe CVD epi-system with an extra line for TMGa. ► A p+ doped Ge surface is made by deposition of pure Ga followed by pure B (PureGaB). ► PureGaB provides low-ohmic p+ contacting and a barrier layer to Al metallization. ► PureGaB Ge-on-Si p+n diodes are nm-shallow and have uniquely low dark current.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 74, August 2012, Pages 126-133
نویسندگان
, , , ,