کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7151167 | 1462258 | 2012 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
PureGaB p+n Ge diodes grown in large windows to Si with a sub-300Â nm transition region
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Monocrystalline Ge-on-Si is grown in large windows with ⼠300 nm transition region. ⺠Growth is at 700 °C in a standard Si/SiGe CVD epi-system with an extra line for TMGa. ⺠A p+ doped Ge surface is made by deposition of pure Ga followed by pure B (PureGaB). ⺠PureGaB provides low-ohmic p+ contacting and a barrier layer to Al metallization. ⺠PureGaB Ge-on-Si p+n diodes are nm-shallow and have uniquely low dark current.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 74, August 2012, Pages 126-133
Journal: Solid-State Electronics - Volume 74, August 2012, Pages 126-133
نویسندگان
Amir Sammak, Lin Qi, Wiebe B. de Boer, Lis K. Nanver,