A two-layer team-assembly model for invention networks

در این مقاله، یک مدل ارائه می شود که تکرار شبکه های دو لایه از داده های ثبت اختراعات ژاپن و ایالات متحده از نظر توزیع درجه بندی می شود. این مدل تکرار شبکه های دو لایه با وابستگی متقابل است. علاوه بر این، این تنها مدل است که از اطلاعات محلی استفاده می کند، در حالی که مدل های دیگر باید از اطلاعات کلی استفاده کنند، که غیر واقعی است. علاوه بر این، مدل پیشنهادی داده های تجربی را بهتر از سایر مدل ها تکرار می کند.