کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
747243 | 894511 | 2010 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Statistical modeling of inter-device correlations with BPV
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The backward propagation of variance (BPV) technique for statistical modeling has proven to be efficient and effective in practice. In this paper we extend the BPV formalism to explicitly include modeling of the correlations between electrical performances. The new formulation is verified by applying it to two different MOSFET models and two different manufacturing technologies.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 54, Issue 8, August 2010, Pages 796-800
Journal: Solid-State Electronics - Volume 54, Issue 8, August 2010, Pages 796-800
نویسندگان
Ivica StevanoviÄ, Xin Li, Colin C. McAndrew, Keith R. Green, Gennady Gildenblat,