کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
747838 | 1462219 | 2015 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
InGaAs inversion layers band structure, electrostatics, and mobility modeling based on 8 band k→·p→ theory
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
8 band k→·p→ method is used to calculate subband structures of InGaAs inversion layers accounting for strong coupling between conduction and valence bands around Γ point as well as quantum confinement. Inversion layer mobility is computed employing Kubo–Greenwood formalism. Scatterings due to acoustic phonons, polar optical phonons, ionized impurities, interface fixed charges, surface roughness, and alloy disorder are included. The simulated low-field electron mobility results are in good agreement with experimental data with and without an InP capping layer.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 113, November 2015, Pages 79–85
Journal: Solid-State Electronics - Volume 113, November 2015, Pages 79–85
نویسندگان
Anh-Tuan Pham, Seonghoon Jin, Woosung Choi, Myoung-Jae Lee, Seong-Ho Cho, Young-Tae Kim, Keun-Ho Lee, Youngkwan Park,