کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
748623 | 894773 | 2010 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Impact of parameter extraction methodology on variances of extracted parameter values
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Two general classes of strategies for extraction of compact model electrical and temperature scaling parameters are identified and compared in the present paper. Applying these to extract parameters of the p-n junction depletion capacitance, we show that the reproducibility of estimated parameter values can strongly depend on the extraction strategy applied in the nonlinear regression procedure. We present an approach to assess statistical properties of parameter extraction strategies and demonstrate the merits of such assessments.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 54, Issue 6, June 2010, Pages 665-670
Journal: Solid-State Electronics - Volume 54, Issue 6, June 2010, Pages 665-670
نویسندگان
Vladimir MilovanoviÄ, Ramses van der Toorn,