کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
748773 | 1462263 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Location controlled high performance single-grain Ge TFTs on glass substrate
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠We have fabricated high performance single-grain Ge TFT under 600 °C. ⺠Excimer laser annealing of Si at S/D improves on-off ratio of Ge TFT. ⺠Interface between Ge and oxide is improved by excimer laser crystallization. ⺠Tensile stress inside Ge channel improves the field effect mobility.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 69, March 2012, Pages 94-98
Journal: Solid-State Electronics - Volume 69, March 2012, Pages 94-98
نویسندگان
Tao Chen, Ryoichi Ishihara, Kees Beenakker,