کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
748773 1462263 2012 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Location controlled high performance single-grain Ge TFTs on glass substrate
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Location controlled high performance single-grain Ge TFTs on glass substrate
چکیده انگلیسی
► We have fabricated high performance single-grain Ge TFT under 600 °C. ► Excimer laser annealing of Si at S/D improves on-off ratio of Ge TFT. ► Interface between Ge and oxide is improved by excimer laser crystallization. ► Tensile stress inside Ge channel improves the field effect mobility.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 69, March 2012, Pages 94-98
نویسندگان
, , ,