کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
748898 | 894794 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analysis of the impact of the drain-junction tunneling effect on a microwave MOSFET from S-parameter measurements
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A procedure to analyze the effect of the MOSFET drain-bulk junction tunneling current at high frequencies is presented. This procedure allows identifying the presence of band-to-band tunneling in short channel-length MOSFETs at different drain-to-source voltages. Since this analysis is based on experimental S-parameters performed to a single MOSFET, the procedure is not affected by the variations occurring in devices with different geometries. Excellent correlation between simulated and experimental output impedance for a 0.1 μm channel-length bulk MOSFET up to 40 GHz demonstrates the validity of the proposed technique.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 53, Issue 2, February 2009, Pages 145–149
Journal: Solid-State Electronics - Volume 53, Issue 2, February 2009, Pages 145–149
نویسندگان
Emmanuel Torres-Rios, Reydezel Torres-Torres, Edmundo A. Gutiérrez-D,